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          新品研發(fā)局部放電測(cè)試儀使用方法手冊(cè)

          更新時(shí)間:2016-09-12      瀏覽次數(shù):1444

          局部放電測(cè)試儀使用方法手冊(cè)說(shuō)明書(shū):
             1、局部放電測(cè)試儀開(kāi)機(jī)準(zhǔn)備
              將“時(shí)基頻率”選擇7置于“50(內(nèi))”、“時(shí)基工作方式”5置于“橢圓”。對(duì)數(shù)線性選擇開(kāi)關(guān) 2置于線性。電源插座33接上220V工頻電源,將電源開(kāi)關(guān)12按到“ON”位置,開(kāi)機(jī)預(yù)熱5分鐘。
          2、儀器校準(zhǔn)
          參照?qǐng)D4接好線后,在未加試驗(yàn)電壓前用JZF型校正脈沖發(fā)生器予以校準(zhǔn)。
              注意:校正脈沖發(fā)生器紅端子上的導(dǎo)線盡量短且接在試品的高壓端,黑端子導(dǎo)線接在試品的低壓端。
          調(diào)節(jié)“放大器增益細(xì)調(diào)”13與“放大器增益粗調(diào)”15使注入脈沖高度適當(dāng)(示波屏上顯示高度2cm以下);電壓、放電量數(shù)字表(3)的示數(shù)和線性、對(duì)數(shù)指針表(1)的示數(shù)與注入已知電量相符。
          校準(zhǔn)完畢后,“放大器增益細(xì)調(diào)”(13)的旋鈕位置不能再改變,在以后測(cè)試中放大器的頻帶也不能改變,必須保持與校正時(shí)相同。
          在校準(zhǔn)完畢后,加試驗(yàn)電壓前,一定要斷開(kāi)校正脈沖發(fā)生器與試品的連接線,以防高電壓打壞校正脈沖發(fā)生器。
              下面以圖4為例,介紹一種試驗(yàn)方法:
              例:用JZF-9或JZF-10型校正脈沖發(fā)生器注入試品兩端的電量為50pC,調(diào)節(jié)GH-6209局放儀面板粗調(diào)旋鈕15,在第三檔調(diào)節(jié)放大器增益細(xì)調(diào)旋調(diào)13,使其表頭“1”指示為50pC。去掉校正脈沖發(fā)生器,加入試驗(yàn)電壓,此時(shí)表頭1所指示值即為放電量值的大小,如大于50pC時(shí)應(yīng)衰減“15”一檔(“15”為放大器增益粗調(diào)共分5檔,每檔20dB,10倍的關(guān)系)。
              3、局部放電測(cè)試儀測(cè)試操作:
              接通高壓試驗(yàn)電路電源,將kV-pC選擇開(kāi)關(guān)4置于“kV”,“零標(biāo)選擇”開(kāi)關(guān)25置于“R”位置,緩緩升高試驗(yàn)電壓,橢圓上將出現(xiàn)兩個(gè)零標(biāo)脈沖,零標(biāo)相位差180°,如試驗(yàn)電壓超過(guò)高壓電阻R的額定電壓等級(jí),則可在低電壓下將“零標(biāo)選擇”開(kāi)關(guān)25置于“內(nèi)”位置,出現(xiàn)由儀器產(chǎn)生的輔助零標(biāo)脈沖,這時(shí)可以調(diào)節(jié)旋鈕23,使輔助零標(biāo)相位與“R”檔時(shí)相符(極性也要一致),則在高壓下不用高壓電阻“R”也可獲得正確的零標(biāo)位置。
              旋轉(zhuǎn)“橢圓旋轉(zhuǎn)”9使橢圓轉(zhuǎn)到預(yù)期的在放電時(shí)能zui利于觀察之處,通常這個(gè)位置是零標(biāo)脈沖分別處于橢園上部左側(cè)及下部右側(cè)之處。連續(xù)升高電壓,注意*次出現(xiàn)持續(xù)放電,當(dāng)放電量超過(guò)規(guī)定的zui低值時(shí)的電壓即為局部放電起始電壓。
              測(cè)試中常會(huì)發(fā)現(xiàn)有各種干擾出現(xiàn),可籍“時(shí)間窗”開(kāi)關(guān)18、19、用一個(gè)或兩個(gè)并用電位器17與 20來(lái)改變橢圓上加亮區(qū)域的寬度與位置。使其避開(kāi)干擾脈沖。用時(shí)間窗裝置可以分別測(cè)量產(chǎn)生于兩個(gè)半波內(nèi)的放電量。
              4、頻率高于50Hz的局部放電試驗(yàn)
              當(dāng)須進(jìn)行高于50Hz的局部放電試驗(yàn)時(shí),可將“時(shí)基頻率”選擇7按在相應(yīng)頻率檔上,從高頻試驗(yàn)電源中取10V-250V試驗(yàn)電壓送入插座29上,(轉(zhuǎn)動(dòng)“高頻電壓”選擇8,使橢圓大小適當(dāng)即可,)
              當(dāng)“高頻電壓”選擇8位置不當(dāng)引起過(guò)載時(shí),則電源會(huì)自動(dòng)切斷,同時(shí)過(guò)載指示燈6亮,此時(shí)應(yīng)將“高頻電壓”選擇8順時(shí)針?lè)较蜣D(zhuǎn)到底,按一下“復(fù)位”按鈕11即可恢復(fù)啟動(dòng)(過(guò)載指示燈6滅)。示波屏上出現(xiàn)橢圓顯示。
              注意:為保護(hù)示波管,試驗(yàn)電壓輸入“高頻電壓”選擇8所示值之比大于15%時(shí)才有橢園顯示。    
          (三)局部放電測(cè)試儀附則
              1、放電類型和放電源的辨認(rèn)
              先介紹一下示波屏上的橢圓軌跡,它是順時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn),正零標(biāo)脈沖表示試驗(yàn)電壓開(kāi)始由負(fù)變向正極性;負(fù)零標(biāo)脈沖則與之相反,兩零標(biāo)間的中點(diǎn)為試驗(yàn)電壓的正、負(fù)峰值部位。
              從橢圓上的放電圖形辯認(rèn)放電類型以及識(shí)別各種干擾是一門技術(shù)性很強(qiáng)并需有豐富實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)的學(xué)問(wèn)(再結(jié)合其他方法予以確認(rèn))。CIGRE(大電網(wǎng)會(huì)議)也為須此專門編了放電圖形識(shí)譜的小冊(cè)子,它是根據(jù)放電圖形中放電位置、移動(dòng)與否,正負(fù)半周的放電幅值一致程度以及放電幅值隨試驗(yàn)電壓及加壓時(shí)間的變化特征來(lái)判斷的,這里只能粗略加以介紹。
              一般來(lái)說(shuō)來(lái),視為真正的內(nèi)部氣泡形成的局部放電,其主要特征是放電大多產(chǎn)生在靠近試驗(yàn)電壓峰值前上升部位的兩半周內(nèi)。
              (1)典型的內(nèi)部氣泡局部放電(見(jiàn)圖5),波形特征:a放電主要顯示在試驗(yàn)電壓由零升到峰值的兩個(gè)橢圓相限內(nèi)。b在起始電壓 Ui時(shí)放電通常發(fā)生在峰值附近,試驗(yàn)電壓超過(guò) Ui時(shí),放電向零位延伸。c兩個(gè)相反半周上放電次數(shù)和幅值大致相同(zui大相差至3:1)。d放電波形可分辨。這里又有幾種情況:1)如果放電幅值隨試驗(yàn)電壓上升而增大,并且放電波形變得模糊不可分辨,則往往是介質(zhì)內(nèi)含有多種大小氣泡,或是介質(zhì)表面放電;2)如果除了上述情況,而且放電幅值隨加壓時(shí)間而迅速增長(zhǎng)(可達(dá)100倍或更多),則往往是絕緣液體中的氣泡放電,典型例子是油浸紙電容器的放電。
          局部放電測(cè)試儀波形圖
                                         圖   5
          (2)局部放電測(cè)試儀金屬與介質(zhì)間氣泡的放電(見(jiàn)圖6  a),波形特征:正半周有很多幅值小的放電,負(fù)半周有少數(shù)幅值大的放電,幅值相差可達(dá)10:1。其它同上,典型例子是絕緣與導(dǎo)體粘附不佳的聚乙烯電纜放電。如果隨試驗(yàn)電壓升高,放電幅值也增大,而且放電波形變得模糊,則往往中含有不同大小多個(gè)氣泡,或者是外露的金屬與介質(zhì)表面之間出現(xiàn)的放電(見(jiàn)圖6  b)。
          局部放電測(cè)試儀波形圖
                                     圖6    a                        圖6     b
          下面討論一些主要視之為干擾或非正常放電的情況。
              (3)局部放電測(cè)試儀懸浮電位物體放電(見(jiàn)圖7  a),波形特征:在電壓峰值前的正負(fù)半周兩個(gè)象限里出現(xiàn),幅值、脈沖數(shù)和位置均相同,有時(shí)(如圖7  b所示)成對(duì)出現(xiàn),放電可移動(dòng),但它們間的相互間隔不變,電壓升高時(shí),根數(shù)增加,間隔縮小,但幅值不變,有時(shí)電壓升到一定值時(shí)會(huì)消失,但降至此值又重新出現(xiàn)。原因:金屬間的間隙產(chǎn)生的放電,間隙可能是地面上兩個(gè)獨(dú)立的金屬體間也可能在樣品內(nèi),例如屏蔽松散。
          局部放電測(cè)試儀波形圖
                              圖7   a                                  圖7   b
          (4)局部放電測(cè)試儀外部電暈(見(jiàn)圖8  a),波形特征:起始放電僅出現(xiàn)在試驗(yàn)電壓的一個(gè)半周上,并對(duì)稱地分布峰值兩側(cè)。試驗(yàn)電壓升高時(shí),放電脈沖數(shù)急劇增加,但幅值不變,并向兩側(cè)伸展(如圖8  b所示)。原因:空氣中高壓或邊緣放電。如果放電出現(xiàn)在負(fù)半周,表示處于高壓,如放電出現(xiàn)在正半周則表示處于地電位。
          局部放電測(cè)試儀波形圖

                                圖8    a                                   圖8    b
          (5)液體介質(zhì)中的電暈(圖9  a),波形特征:放電出現(xiàn)在兩個(gè)半周上,對(duì)稱地分布在電壓峰值兩則。每一組放電均為等間隔,但一組幅值較大的放電先出現(xiàn),隨試驗(yàn)電壓升高而幅度增大,不一定等幅值:一組幅值小的放電幅值相等,并且不隨電壓變化(如圖9  b所示)。原因:絕緣液體中或邊緣放電,如一組大的放電出現(xiàn)在正半周,則處于高壓;如它出現(xiàn)在負(fù)半周,則處于地電位。
          局部放電測(cè)試儀波形圖
                            圖9   a                                 圖9   b
          (6)接觸不良(圖10),波形特征:對(duì)稱分布在試驗(yàn)電壓零點(diǎn)兩側(cè),幅值大致不變,但在試驗(yàn)電壓峰值附近下降為零,波形粗糙不清晰。低電壓下即出現(xiàn),電壓增大時(shí),幅值緩慢增加,有時(shí)在電壓達(dá)到一定值后*消失。原因:試驗(yàn)電路中金屬與金屬不良接觸的連接點(diǎn);塑料電纜屏蔽層半導(dǎo)體粒子的不良接觸;電容器鋁箔的插接片等(可將電容器充電然后短路來(lái)消除)。
          局部放電測(cè)試儀接觸不良波形圖
                              圖10
          (7)局部放電測(cè)試儀可控硅元件(圖11  a),波形特征:位置固定,每只元件產(chǎn)生一個(gè)獨(dú)立訊號(hào)。電路接通,電磁耦合效應(yīng)增強(qiáng)時(shí),訊號(hào)幅值增加。試驗(yàn)調(diào)壓時(shí),該脈沖訊號(hào)會(huì)產(chǎn)生高頻波形展寬,從而占位增加(圖11  b),原因:鄰近有可控硅元件在運(yùn)行。
          局部放電測(cè)試儀硅元件波形
                             圖11 a                                    圖11 b
          (8)局部放電測(cè)試儀繼電器、接觸器、輝光管等動(dòng)作(圖12),波形特征:波形不規(guī)則或間斷出現(xiàn), 同試驗(yàn)電壓無(wú)關(guān)。原因:熱繼電器、接觸器和各種火花試驗(yàn)器及有火花放電的記錄器動(dòng)作時(shí)產(chǎn)生。
          局部放電測(cè)試儀繼電器波形
                             圖 12

          (9)局部放電測(cè)試儀異步電機(jī)(圖13),波形特征:正負(fù)半周出現(xiàn)對(duì)稱的兩簇訊號(hào),沿橢園時(shí)基逆向以不變的速度旋轉(zhuǎn)。原因:異步電機(jī)運(yùn)行訊號(hào)耦合到檢測(cè)電路中了。
          局部放電測(cè)試儀異步電機(jī)波形圖

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